本文件描述了多壁碳納米管（MWCNTs）介觀形狀因子的表征方法。所采用的表征技術包括掃描電子顯微術（SEM）、透射電子顯微術（TEM）、黏度法和光散射法等。
本文件還包括用于界定靜態彎曲持續長度（SBPL）表征的附加條款，給出了用于評價SBPL的測量方法，其長度通常處于幾十納米至幾百微米之間。
本文件借鑒高分子物理中的概念和數學表達式來定義MWCNTs的介觀形狀因子。