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電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法 第8部分：顯微結構的測定方法

標 準 號： GB/T 5594.8-2015
替代情況： 替代 GB/T 5594.8-1985
發布單位： 中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
起草單位： 中國電子科技集團公司第十二研究所、中國電子技術標準化研究院、江蘇常熟銀洋陶瓷器件有限公司
發布日期： 2015-05-15
實施日期： 2016-01-01
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更新日期： 2017年11月23日
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內容摘要

GB/T5594的本部分規定了氧化鋁瓷、氧化鈹瓷、滑石瓷和鎂橄欖石瓷等電子元器件結構陶瓷顯微結構的測定方法。
本部分適用于氧化鋁瓷、氧化鈹瓷、滑石瓷和鎂橄欖石瓷等電子元器件結構陶瓷顯微結構的測定。
本部分只涉及光學顯微鏡的測定內容和測定方法。

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