本部分規定了用微型磁場探頭以非接觸的電流測量方式來測量集成電路(IC)的管腳的射頻電流的方法。本方法可以在150kHz~1GHz頻率范圍內測量由IC產生的射頻電流。本部分適用于單個IC的測量或者用于標準測試板上的IC芯片組的描述和比較。
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