本文件規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路驅(qū)動(dòng)器（以下簡稱器件）的電特性測試方法的基本原理和測試程序。
本文件適用于74/54系列驅(qū)動(dòng)器、總線驅(qū)動(dòng)器、PIN開關(guān)驅(qū)動(dòng)器、達(dá)林頓驅(qū)動(dòng)器、時(shí)鐘驅(qū)動(dòng)器、LVDS驅(qū)動(dòng)器、MOSFET驅(qū)動(dòng)器和差分驅(qū)動(dòng)器等各種半導(dǎo)體工藝制造的驅(qū)動(dòng)器的電性能測試。
其他類別驅(qū)動(dòng)器的測試參考使用。
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