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半導體器件 機械和氣候試驗方法 第23部分:高溫工作壽命

標 準 號: GB/T 4937.23-2023
替代情況:
發(fā)布單位: 國家市場監(jiān)督管理總局 國家標準化管理委員會
起草單位: 廣東科信電子有限公司、佛山市川東磁電股份有限公司 等
發(fā)布日期: 2023-05-23
實施日期: 2023-12-01
點 擊 數(shù):
更新日期: 2023年11月01日
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內(nèi)容摘要

本文件描述了隨時間的推移,偏置條件和溫度對固態(tài)器件影響的試驗方法。該試驗以加速壽命模式模擬器件工作,主要用于器件的鑒定和可靠性檢驗。短期的高溫偏置壽命通常稱之為老煉,可用于篩選試驗中剔除早期失效產(chǎn)品。本文件未規(guī)定老煉的詳細要求和應用。

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