本標(biāo)準(zhǔn)參照了IEC 60759:1983《半導(dǎo)體Ｘ 射線能譜儀標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試程序》。
本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T 13179-1991《硅（鋰）Ｘ 射線探測(cè)器系統(tǒng)》。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了硅（鋰）X射線探測(cè)器系統(tǒng)的產(chǎn)品分類、技術(shù)要求、試驗(yàn)方法和檢測(cè)規(guī)則等。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于帶有液氮貯存容器的室內(nèi)用硅（鋰）X射線探測(cè)器系統(tǒng)，但不適用于掃描電鏡的、便攜式或非液氮冷卻硅（鋰）X射線探測(cè)器系統(tǒng)。