GB/T17554的本部分規(guī)定了符合 GB/T14916—2006所定義識(shí)別卡特性的一些測試方法。每一個(gè)測試方法交叉引用一個(gè)或多個(gè)基本標(biāo)準(zhǔn),這些基本標(biāo)準(zhǔn)可以是 GB/T14916—2006,也可以是一個(gè)或多個(gè)定義了在識(shí)別卡應(yīng)用中使用的信息存儲(chǔ)技術(shù)的補(bǔ)充標(biāo)準(zhǔn)。
本部分定義了特別針對磁條技術(shù)的測試方法。
注1:可接受的準(zhǔn)則不包含在本部分中,而是在以上提及的國家標(biāo)準(zhǔn)中。
注2:本部分描述的若干測試方法可單獨(dú)進(jìn)行。對一張指定的卡不要求按順序地通過所有測試。