本標準規定了使用直角坐標和極坐標建立晶片正面坐標系、背面坐標系和三維坐標系的程序。本標準適用于有圖形和無圖形的晶片坐標系的建立。該坐標系用于確定和記錄晶片上的缺陷、顆粒等測試結果的準確位置。
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