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硅及其它電子材料晶片參考面長度測量方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào): GB/T 13387-2009
替代情況: 替代 GB/T 13387-1992
發(fā)布單位: 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位: 有研半導(dǎo)體材料股份有限公司
發(fā)布日期: 2009-10-30
實(shí)施日期: 2010-06-01
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更新日期: 2025年03月12日
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內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)用于標(biāo)稱圓形晶片邊緣平直部分長度小于等于65mm 的電學(xué)材料。本標(biāo)準(zhǔn)僅對(duì)硅片精度進(jìn)行確認(rèn),預(yù)期精度不因材料而改變。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于仲裁測量,當(dāng)規(guī)定的限度要求高于用尺子和肉眼檢測能夠獲得的精度時(shí),本標(biāo)準(zhǔn)也可用于常規(guī)驗(yàn)收測量。?

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