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半導(dǎo)體單晶材料透過率測試方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào): GB/T 46227-2025
替代情況:
發(fā)布單位: 國家市場監(jiān)督管理總局 國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位: 安徽光智科技有限公司、天通銀廈新材料有限公司、廣東先導(dǎo)微電子科技有限公司等
發(fā)布日期: 2025-08-29
實(shí)施日期: 2026-03-01
點(diǎn) 擊 數(shù):
更新日期: 2025年10月08日
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內(nèi)容摘要

本文件描述了半導(dǎo)體單晶材料在波長0.2μm?300μm范圍內(nèi)透過率的測量方法。
本文件適用于硅、鍺、磷化銦、硒化鎘、硫化鎘、碳化硅、氮化鎵、氧化鎵、藍(lán)寶石、金剛石等半導(dǎo)體單晶材料透過率的測定。

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