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有機(jī)發(fā)光二極管顯示器 表面云紋(Mura)缺陷量化方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào): T/HBAI 001-2024
替代情況:
發(fā)布單位: 湖北省人工智能學(xué)會(huì)
起草單位: 華中科技大學(xué)、武漢精測電子集團(tuán)股份有限公司、武漢數(shù) 字化設(shè)計(jì)與制造創(chuàng)新中心有限公司
發(fā)布日期: 2024-10-17
實(shí)施日期: 2024-10-25
點(diǎn) 擊 數(shù):
更新日期: 2026年05月11日
下載地址:點(diǎn)擊這里 1.77 MB
下載點(diǎn)數(shù):30點(diǎn)(VIP會(huì)員免費(fèi))
內(nèi)容摘要

本文件規(guī)定了有機(jī)發(fā)光二極管顯示器表面云紋(Mura)缺陷量化的分級(jí)標(biāo)準(zhǔn)及實(shí)驗(yàn)條件、方法。


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